测量系统的五个特性
kuaidi.ping-jia.net 作者：佚名 更新日期：2024-07-13
一个理想的测量系统是每次使时均产生“正确的”测量结果；每个测量都会遵循某个标准。能够产生这样的测量结果的测量系统被称为具有如下的统计特性：零变差、零偏倚、及对其所测量的产品被错误分析的可能性为零。不幸的是，具有这样理想统计特性的测量系统很少存在；所以，过程管理者通常被迫使用统计特性不尽理想的测量系统。测量系统的质量通常仅仅取决于经过一段时间后产生数据的统计特性。当他们要促成一整体上令人满意的测量系统时，其它因素如成本、易于操作等同样重要。但这是所产生数据的统计特性，是测量系统质量的决定因素。
对某种使用情况下非常重要的统计特性，其不一定是另一种使用情况下非常重要的统计特性。例如：在某些情况下使用三坐标测量仪（coordinate measuring machine，CMM），最重要的统计特性是“小”的偏倚和变差，具有这种的统计特性的CMM将产生“接近”可追溯标准的公认值的测量结果。用这样的仪器所获得的数据对于分析一个制造过程是非常有用的：但是，不管CMM仪器的偏倚和变差多么“小”，使用CMM这样的测量系统也许不能用分辨好产品和坏产品的接受工作，因为测量系统的其它因素会产生额外的变差来源。
管理者有责任为最佳的数据应用，识别最为重要的统特征；管理者也有责任确保使用这些特性作为选择测量系统的依据，为了达到以上的目的，需要将这些统计特性具体定义，并且规定测量它们的可接受方法，尽管每个测量系统可能被要求具有不同的统计特性，有一些基本的特性来定义一个“好”的测量系统，包括：
1）具有足够的分辨力和敏感度。测量的增量（increment）应该小于测量目的相应的过程变差或规范限值（specificationlimit）。通常被称为10比1规则，也就是说仪器的分辨力应该能将公差（或过程变差）划分成10等份或者更多。这比例规则的意图是为选择量具时的一个实际最先遵守的原则。
2）测量系统应处于统计上的受控状态。这意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由普通原因（common cause）造成，而不能由特殊原因（special cause）造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过控制图法最佳地进行评价。
3）为了产品控制，测量系统的变差必须小于规范限值。以特性的公差来评估测量系统。
4）为了过程控制，测量系统的变差应该能证明具有有效的解析度，并且小于制造过程的变差。6σ过程变差和/或MSA研究中的总变差可用来评估测量系统。
好的测量系统，分辨力和敏感度要高、受控、变差小、解析度有效。
测量系统的统计特性随着被测量的项目不同可能会发生变化。如果这样，测量系统的最大（最坏）的变差必须小于过程变差或规范限值。
1.一种空间目标特性测量系统，其特征在于：包括光源子系统(1)、光谱仪子系统(2)、弧形滑轨(3)和样品装载平台(4)，以及综合控制与数据处理子系统(5)，其中：光源子系统(1)和光谱仪子系统(2)安装在弧形滑轨(3)上，且光源子系统(1)和光谱仪子系统(2)内均设置有电机，能够在所述电机的驱动下沿所述弧形滑轨(3)进行滑动；样品装载平台(4)位于所述弧形滑轨(3)对应圆弧的圆心处，待测试样品(6)固定在所述样品装载平台(4)上；在测量过程中：综合控制与数据处理子系统(5)向光源子系统(1)和光谱仪子系统(2)发送电机驱动指令，在所述指令的控制下调整光源子系统......仅供参考！
① 偏倚
② 稳定性
③ 线性
④ 重复性
⑤ 再现性
测量系统的五个特性
答：能够产生这样的测量结果的测量系统被称为具有如下的统计特性：零变差、零偏倚、及对其所测量的产品被错误分析的可能性为零。不幸的是，具有这样理想统计特性的测量系统很少存在；所以，过程管理者通常被迫使用统计特性不尽理想的测量系统。测量系统的质量通常仅仅取决于经过一段时间后产生数据的统计特性。当他们...
测量系统分析包括哪五种分析?
答：五种分析：1、偏倚(Bias)：测量结果的观测平均值与基准值的差值。2、稳定性(Stability)：测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差，即偏倚随时间的增量。3、重复性（Repeatability）：由同一位检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。
什么是测试系统的特性?
答：测量系统的静态特性指标主要有：测量范围、精度、灵敏度、稳定性、非线性度、重复性、灵敏闽和分辨力、迟滞等。每个用于测量的检测仪器都有规定的测量范围，它是该仪表按规定的精度对被测变量进行测量的允许范围。测量范围的最小值和最大值分别称为测量下限和测量上限，简称下限和上限。测量系统的基本定义...
测量系统分析的指标
答：1.量具重复性：指同一个评价人，采用同一种测量仪器，在尽可能短的时间内多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值（数据）的变差。2.量具再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。3.稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性...
测量系统分析的特性
答：这可称为统计稳定性。2.测量系统的变差必须比制造过程的变差小。3.变差应小于公差带。4.测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一。5.测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应...
1. 简答题测量系统的静态特性指标主要有几个?
答：测量系统的静态特性指标有：线性度、迟滞、重复性、分辨力、稳定性、温度稳定性、各种抗干扰稳定性等。
msa 的五大性是什么
答：2、测量系统的变差必须小于制造过程的变差。3、变差应小于公差带。4、测量精度应高于过程变差和公差带的测量精度。一般来说，测量精度是过程变差和公差带的十分之一。5、测量系统的统计特性可能随被测项目的变化而变化。如果是，测量系统的最大变化应小于过程变化和公差带的最大变化。
请简述测量系统分析五大特性中重复性和再现性的区别
答：重复性：同一检验人员，同一设备，对同一工件进行多次测量，测量值之间的差异；再现性：不同的检验人员，同一设备，对同一工件进行测量，测量值之间的差异。
电机测试系统的特性有哪些?
答：其主要特性如下：1.多项测试。电机测试系统可以实现电机的多项测试，包括功率测试、效率测试、转矩测试、温度测试等多个方面，具有全面性和综合性。2.精度高。电机测试系统采用高精度的测量仪器和传感器，保证测试结果的准确性和可靠性。3.性能稳定。电机测试系统采用先进的控制和数据采集技术，可以实现高速...
测量系统的线性是什么内的偏倚变化量
答：测量系统的统计特性•Bias偏倚(Bias)•Repeatability重复性(precision精度)•Reproducibility再现性•Linearity线性•Stability稳定性1.偏倚：是测量结果的观测平均值与基准值的差值。真值的取得可以通过采用更高等级的测量设备进行多次测量，取其平均值。2.重复性:指由同一个操作...
对某种使用情况下非常重要的统计特性，其不一定是另一种使用情况下非常重要的统计特性。例如：在某些情况下使用三坐标测量仪（coordinate measuring machine，CMM），最重要的统计特性是“小”的偏倚和变差，具有这种的统计特性的CMM将产生“接近”可追溯标准的公认值的测量结果。用这样的仪器所获得的数据对于分析一个制造过程是非常有用的：但是，不管CMM仪器的偏倚和变差多么“小”，使用CMM这样的测量系统也许不能用分辨好产品和坏产品的接受工作，因为测量系统的其它因素会产生额外的变差来源。
管理者有责任为最佳的数据应用，识别最为重要的统特征；管理者也有责任确保使用这些特性作为选择测量系统的依据，为了达到以上的目的，需要将这些统计特性具体定义，并且规定测量它们的可接受方法，尽管每个测量系统可能被要求具有不同的统计特性，有一些基本的特性来定义一个“好”的测量系统，包括：
1）具有足够的分辨力和敏感度。测量的增量（increment）应该小于测量目的相应的过程变差或规范限值（specificationlimit）。通常被称为10比1规则，也就是说仪器的分辨力应该能将公差（或过程变差）划分成10等份或者更多。这比例规则的意图是为选择量具时的一个实际最先遵守的原则。
2）测量系统应处于统计上的受控状态。这意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由普通原因（common cause）造成，而不能由特殊原因（special cause）造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过控制图法最佳地进行评价。
3）为了产品控制，测量系统的变差必须小于规范限值。以特性的公差来评估测量系统。
4）为了过程控制，测量系统的变差应该能证明具有有效的解析度，并且小于制造过程的变差。6σ过程变差和/或MSA研究中的总变差可用来评估测量系统。
好的测量系统，分辨力和敏感度要高、受控、变差小、解析度有效。
测量系统的统计特性随着被测量的项目不同可能会发生变化。如果这样，测量系统的最大（最坏）的变差必须小于过程变差或规范限值。
1.一种空间目标特性测量系统，其特征在于：包括光源子系统(1)、光谱仪子系统(2)、弧形滑轨(3)和样品装载平台(4)，以及综合控制与数据处理子系统(5)，其中：光源子系统(1)和光谱仪子系统(2)安装在弧形滑轨(3)上，且光源子系统(1)和光谱仪子系统(2)内均设置有电机，能够在所述电机的驱动下沿所述弧形滑轨(3)进行滑动；样品装载平台(4)位于所述弧形滑轨(3)对应圆弧的圆心处，待测试样品(6)固定在所述样品装载平台(4)上；在测量过程中：综合控制与数据处理子系统(5)向光源子系统(1)和光谱仪子系统(2)发送电机驱动指令，在所述指令的控制下调整光源子系统......仅供参考！
① 偏倚
② 稳定性
③ 线性
④ 重复性
⑤ 再现性
答：能够产生这样的测量结果的测量系统被称为具有如下的统计特性：零变差、零偏倚、及对其所测量的产品被错误分析的可能性为零。不幸的是，具有这样理想统计特性的测量系统很少存在；所以，过程管理者通常被迫使用统计特性不尽理想的测量系统。测量系统的质量通常仅仅取决于经过一段时间后产生数据的统计特性。当他们...
答：五种分析：1、偏倚(Bias)：测量结果的观测平均值与基准值的差值。2、稳定性(Stability)：测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差，即偏倚随时间的增量。3、重复性（Repeatability）：由同一位检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。
答：测量系统的静态特性指标主要有：测量范围、精度、灵敏度、稳定性、非线性度、重复性、灵敏闽和分辨力、迟滞等。每个用于测量的检测仪器都有规定的测量范围，它是该仪表按规定的精度对被测变量进行测量的允许范围。测量范围的最小值和最大值分别称为测量下限和测量上限，简称下限和上限。测量系统的基本定义...
答：1.量具重复性：指同一个评价人，采用同一种测量仪器，在尽可能短的时间内多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值（数据）的变差。2.量具再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。3.稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性...
答：这可称为统计稳定性。2.测量系统的变差必须比制造过程的变差小。3.变差应小于公差带。4.测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一。5.测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应...
答：测量系统的静态特性指标有：线性度、迟滞、重复性、分辨力、稳定性、温度稳定性、各种抗干扰稳定性等。
答：2、测量系统的变差必须小于制造过程的变差。3、变差应小于公差带。4、测量精度应高于过程变差和公差带的测量精度。一般来说，测量精度是过程变差和公差带的十分之一。5、测量系统的统计特性可能随被测项目的变化而变化。如果是，测量系统的最大变化应小于过程变化和公差带的最大变化。
答：重复性：同一检验人员，同一设备，对同一工件进行多次测量，测量值之间的差异；再现性：不同的检验人员，同一设备，对同一工件进行测量，测量值之间的差异。
答：其主要特性如下：1.多项测试。电机测试系统可以实现电机的多项测试，包括功率测试、效率测试、转矩测试、温度测试等多个方面，具有全面性和综合性。2.精度高。电机测试系统采用高精度的测量仪器和传感器，保证测试结果的准确性和可靠性。3.性能稳定。电机测试系统采用先进的控制和数据采集技术，可以实现高速...
答：测量系统的统计特性•Bias偏倚(Bias)•Repeatability重复性(precision精度)•Reproducibility再现性•Linearity线性•Stability稳定性1.偏倚：是测量结果的观测平均值与基准值的差值。真值的取得可以通过采用更高等级的测量设备进行多次测量，取其平均值。2.重复性:指由同一个操作...
